Optimal reliability modelingprinciples and applications

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Kuo, Way
Formatua: Tandon
Hizkuntza:Asing
Argitaratua: John Wiley & Sons 2003
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
PINJAM