Optimal reliability modelingprinciples and applications

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Kuo, Way
Formaat: Tandon
Taal:Asing
Gepubliceerd in: John Wiley & Sons 2003
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
PINJAM
Omschrijving
Samenvatting:
Fysieke beschrijving:xvi, 544 p. il. 23 cm
ISBN:ISBN:047139761X